|
|
|
Алиджанов Э.К., Домахин О.А., Летута С.Н., Беспалов В.А., Логинов Б.А. ВАКУУМНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОВОДЯЩИХ ОБРАЗЦОВОписываются конструкционные особенности и технические характеристики оригинального вакуумного сканирующего туннельного микроскопа UnderSEM-377, совмещенного с коммерческим растровым электронным микроскопом (JSM–T20). Для созданного комбайна, на примере тестовых образцов, представляющих собой пленки фуллерита и органического полупроводника – 1,4,5,8-нафталинтетракарбоксилдиангидрид, показана возможность исследования топографии поверхности и структуры плотности электронных состояний с латеральным разрешением ~1 нм.
О статье
Автор:
Год: 2007
|
|
Главный редактор |
Сергей Александрович
МИРОШНИКОВ |
|
|
